高分辨二次离子质谱仪tof-sims是非常灵敏的表面分析手段，凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、半导体、微电子、物理学、材料化学、纳米科学、矿物学、生命科学等领域。

Kore SurfaceSeer S在飞行时间二次离子质谱仪 （TOF-SIMS） 系列中，是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。

高分辨二次离子质谱仪tof-sims是非常灵敏的表面分析手段，它将脉冲一次离子束聚焦到样品表面，在溅射过程中产生二次离子。分析这些二次离子可提供有关样品表面的分子、无机和元素种类的信息。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、半导体、微电子、物理学、材料化学、纳米科学、矿物学、生命科学等领域。

Kore SurfaceSeer S型号的高分辨二次离子质谱仪tof-sims使用的是5keV Cs+离子束（可选惰性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µs TOF 循环中，该离子枪的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS"极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是非常高效的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低 的聚合物上，也通常为5000 c/s）。

TOF-SIMS的高表面灵敏度使其成为解决问题的良好起点，可以对样品中存在的物质类型进行概述。然后可以使用其他技术来获取其他信息。TOF-SIMS还可以检测到比传统表面分析技术（如XPS和Auger）低得多的物质水平。

SurfaceSeer S 仪器特点：

• 配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损"分析；
  

• 针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器；

• 均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ；

• 可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；

• 质量分辨率可达 >2,500 m/δm (FWHM)；

• 适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。

SurfaceSeerS应用领域:

表面化学

黏附力

分层

印刷适性

表面改性

等离子体处理

痕量分析（表面ppm）

催化剂

同位素分析

表面污染